缺氧一段时间后,下丘脑神经元的功能受损,影响其兴奋性,静息电位水平是影响细胞兴奋性水平的因素之一.为探究不同缺氧时间对神经元兴奋性的影响,研究人员将神经元置于含氧培养液中,测定单细胞的静息电位和阈强度(引发神经冲动的最小电刺激强度),再将其置于无氧培养液中,定时测定,结果如图2,3所示.
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