1. 为甄选合格电子元器件，出厂前必须进行元器件的寿命及各种试验。气候试验：密封性试验、温度循环试验、热冲击试验、气压试验、潮热试验、盐雾试验；机械试验：振动、冲击、离心、碰撞、跌落等；长期寿命试验：1000 小时以上的试验时间；可靠性筛选试验：采用外加应力将电子元件成品中潜在的早期失效产品剔除，从而分选出具有高可靠性产品。以上描述没有涉及的试验方法是（    ）